广州贝拓薄膜厚度仪

广州贝拓薄膜厚度仪利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。

薄膜厚度仪采用效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。

参数方案功能，用户可自定义并保存测试参数，再次进行相同测试时可直接使用，节省用户时间、减少参数误设置

测试结果包含较大值、较小值、平均值和标准差，快速直观地展示给用户

试验结果对比功能，用户可快速直观的判断测试结果

自动进样功能（可选配置），测量间距、进样速度、测量点数均可设，连续多点测量更加准确、有效

薄膜厚度仪

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